手持式X荧光光谱仪-测量Al\Mg\Si-显微镜-北京华欧世纪光电技术有限公司

手持式X荧光光谱仪-测量Al\Mg\Si

类别：分析仪器与光学仪器 - 显微镜
品牌：
型号：
产地：北京
更新：2014-02-15 20:02:05

产品介绍

品牌中的精英，精品中的极品！

快速、高效、准确；材料分析、废料分捡、牌号识别，特别是Al、Mg、Si测量的最理想工具。

　　　　　　　　　　　　　　　

S1 TURBO^SD是世界第一台配置了XFlash^®硅漂移探测器(SDD)的手持X射线荧光光谱仪，检测器能量分辨率高达140eV，大幅度地提高了分析速度和灵敏度。能够在空气模式下，无需真空或氦气冲洗即可测量铝合金中的Mg、Si，镍合金中的Al以及钢材中的Si、S、P。

可测量的基体：工具钢，低合金钢，不锈钢，钴合金，镍合金，铜合金，钛合金，铝合金，锆合金，钨合金，锌合金，镁合金，锆合金等

优点

无损、定量分析

快速、便携、可靠

能够分析S、P、Al, Mg, Si

可编辑用户数据库

测量元素范围可低至Mg(12)

微软实时系统(MS CE)软件提供图谱分析

高灵敏度，可检测低至PPM的微量元素

PXRF软件还具有定性和定量分析功能，控制光管的电压和电流，使之适用于大范围的元素测量。

NASA/Bruker共有专利-无真空－无氦气消耗，精度可靠

功能模块

定量分析

牌号识别

混料识别

合格与否判定

图谱显示

应用领域

石油化工

军工

航空、航天

钢铁

电站、电厂

锅炉压力容器

机械制造与加工

金属回收与分类

贵金属

RoHS检测（玩具、塑料等）

矿石

土壤

其它

技术规格
重量	1.5kg
尺寸	30cm(L)x10cm(W)x28cm(H)
激发源	X射线管，Ag靶，40kV
检测器	XFlash^®硅漂移检测器(SDD), 检测速度快；能量分辨率高：145eV, 计数率：100 kcps
操作系统	HP掌上电脑：Windows Mobile5.0 Bruker 专用软件
冷却系统	Peltier 电子冷却系统
电源	交、直流供电；2块充电锂电池，可连续工作8-12小时
工作条件	温度范围：-20℃～+55℃；湿度范围：0～95%
电池充电器	交流充电器：110/220V，50/60Hz
计算机/显示器	240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏
测量模式	牌号识别、定量分析、显示测量谱线、合格与否判定
数据传输	USB，无线蓝牙，SD卡
数据存储	主机：512MB 存储卡：CF/SD卡，2GB，能存储几十万个牌号和测量数据
安全	密码保护，设有多级安全锁
运输箱	减震、抗压、防水、密封仪器箱
支持语言	包括中、英文在内的12种语言(用户自选)
质保期获得证书	整机2年 CE、TUV、ISO9001，IECEE